Characterization of an Ionization Readout Tile for nEXO

M. Jewell, A. Schubert, W.R. Cen, J. Dalmasson, R. De; Voe, L. Fabris, G. Gratta, A. Jamil, G. Li, A. Odian, M. Patel, A. Pocar, D. Qiu, Q. Wang, L.J. Wen, J.B. Albert, G. Anton, I.J. Arnquist, I. Badhrees, P. Barbeau, D. Beck, V. Belov, F. Bourque, J. P. Brodsky, E. Brown, T. Brunner, A. Burenkov, G.F. Cao, L. Cao, C. Chambers, S.A. Charlebois, M. Chiu, B. Cleveland, M. Coon, A. Craycraft, W. Cree, M. Côté, T. Daniels, S.J. Daugherty, J. Daughhetee, S. Delaquis, A. Der Mesrobian-Kabakian, T. Didberidze, J. Dilling, Y.Y. Ding, M.J. Dolinski, A. Dragone, W. Fairbank, J. Farine, S. Feyzbakhsh, R. Fontaine, D. Fudenberg, G. Giacomini, R. Gornea, E.V. Hansen, D. Harris, M. Hasan, M. Heffner, E. W. Hoppe, A. House, P. Hufschmidt, M. Hughes, J. Hößl, Y. Ito, A. Iverson, X.S. Jiang, S. Johnston, A. Karelin, L.J. Kaufman, T. Koffas, S. Kravitz, R. Krücken, A. Kuchenkov, K.S. Kumar, Y. Lan, D.S. Leonard, S. Li, Z. Li, C. Licciardi, Y.H. Lin, R. Mac; Lellan, T. Michel, B. Mong, D. Moore, K. Murray, R.J. Newby, Z. Ning, O. Njoya, F. Nolet, K. Odgers, M. Oriunno, J.L. Orrell, I. Ostrovskiy, C.T. Overman, G. S. Ortega, S. Parent, A. Piepke, J.-F. Pratte, V. Radeka, E. Raguzin, T. Rao, S. Rescia, F. Retiere, A. Robinson, T. Rossignol, P.C. Rowson, N. Roy, R. Saldanha, S. Sangiorgio, S. Schmidt, J. Schneider, D. Sinclair, K. Skarpaas, A.K. Soma, G. St-Hilaire, V. Stekhanov, T. Stiegler, X.L. Sun, M. Tarka, J. Todd, T. Tolba, R. Tsang, T. Tsang, F. Vachon, V. Veeraraghavan, G. Visser, J.-L. Vuilleumier, M. Wagenpfeil, M. Weber, W. Wei, U. Wichoski, G. Wrede, S.X. Wu, W.H. Wu, L. Yang, Y.-R. Yen, O. Zeldovich, X. Zhang, J. Zhao, Y. Zhou and T. Ziegler
Institute of Physics Publishing (IOP)
Published 2018