Search Results - (Author, Cooperation:D. R. Nygren)
-
1E. Bainglass, B. J. P. Jones, F. W. Foss, Jr., M. N. Huda, and D. R. Nygren
American Physical Society (APS)
Published 2018Staff ViewPublication Date: 2018-06-22Publisher: American Physical Society (APS)Print ISSN: 1050-2947Electronic ISSN: 1094-1622Topics: PhysicsKeywords: Atomic and molecular structure and dynamicsPublished by: -
2M. G. Aartsen ; R. Abbasi ; Y. Abdou ; M. Ackermann ; J. Adams ; J. A. Aguilar ; M. Ahlers ; D. Altmann ; J. Auffenberg ; X. Bai ; M. Baker ; S. W. Barwick ; V. Baum ; R. Bay ; J. J. Beatty ; S. Bechet ; J. Becker Tjus ; K. H. Becker ; M. L. Benabderrahmane ; S. BenZvi ; P. Berghaus ; D. Berley ; E. Bernardini ; A. Bernhard ; D. Bertrand ; D. Z. Besson ; G. Binder ; D. Bindig ; M. Bissok ; E. Blaufuss ; J. Blumenthal ; D. J. Boersma ; S. Bohaichuk ; C. Bohm ; D. Bose ; S. Boser ; O. Botner ; L. Brayeur ; H. P. Bretz ; A. M. Brown ; R. Bruijn ; J. Brunner ; M. Carson ; J. Casey ; M. Casier ; D. Chirkin ; A. Christov ; B. Christy ; K. Clark ; F. Clevermann ; S. Coenders ; S. Cohen ; D. F. Cowen ; A. H. Cruz Silva ; M. Danninger ; J. Daughhetee ; J. C. Davis ; M. Day ; C. De Clercq ; S. De Ridder ; P. Desiati ; K. D. de Vries ; M. de With ; T. DeYoung ; J. C. Diaz-Velez ; M. Dunkman ; R. Eagan ; B. Eberhardt ; B. Eichmann ; J. Eisch ; R. W. Ellsworth ; S. Euler ; P. A. Evenson ; O. Fadiran ; A. R. Fazely ; A. Fedynitch ; J. Feintzeig ; T. Feusels ; K. Filimonov ; C. Finley ; T. Fischer-Wasels ; S. Flis ; A. Franckowiak ; K. Frantzen ; T. Fuchs ; T. K. Gaisser ; J. Gallagher ; L. Gerhardt ; L. Gladstone ; T. Glusenkamp ; A. Goldschmidt ; G. Golup ; J. G. Gonzalez ; J. A. Goodman ; D. Gora ; D. T. Grandmont ; D. Grant ; A. Gross ; C. Ha ; A. Haj Ismail ; P. Hallen ; A. Hallgren ; F. Halzen ; K. Hanson ; D. Heereman ; D. Heinen ; K. Helbing ; R. Hellauer ; S. Hickford ; G. C. Hill ; K. D. Hoffman ; R. Hoffmann ; A. Homeier ; K. Hoshina ; W. Huelsnitz ; P. O. Hulth ; K. Hultqvist ; S. Hussain ; A. Ishihara ; E. Jacobi ; J. Jacobsen ; K. Jagielski ; G. S. Japaridze ; K. Jero ; O. Jlelati ; B. Kaminsky ; A. Kappes ; T. Karg ; A. Karle ; J. L. Kelley ; J. Kiryluk ; J. Klas ; S. R. Klein ; J. H. Kohne ; G. Kohnen ; H. Kolanoski ; L. Kopke ; C. Kopper ; S. Kopper ; D. J. Koskinen ; M. Kowalski ; M. Krasberg ; K. Krings ; G. Kroll ; J. Kunnen ; N. Kurahashi ; T. Kuwabara ; M. Labare ; H. Landsman ; M. J. Larson ; M. Lesiak-Bzdak ; M. Leuermann ; J. Leute ; J. Lunemann ; J. Madsen ; G. Maggi ; R. Maruyama ; K. Mase ; H. S. Matis ; F. McNally ; K. Meagher ; M. Merck ; T. Meures ; S. Miarecki ; E. Middell ; N. Milke ; J. Miller ; L. Mohrmann ; T. Montaruli ; R. Morse ; R. Nahnhauer ; U. Naumann ; H. Niederhausen ; S. C. Nowicki ; D. R. Nygren ; A. Obertacke ; S. Odrowski ; A. Olivas ; A. O'Murchadha ; L. Paul ; J. A. Pepper ; C. Perez de los Heros ; C. Pfendner ; D. Pieloth ; E. Pinat ; J. Posselt ; P. B. Price ; G. T. Przybylski ; L. Radel ; M. Rameez ; K. Rawlins ; P. Redl ; R. Reimann ; E. Resconi ; W. Rhode ; M. Ribordy ; M. Richman ; B. Riedel ; J. P. Rodrigues ; C. Rott ; T. Ruhe ; B. Ruzybayev ; D. Ryckbosch ; S. M. Saba ; T. Salameh ; H. G. Sander ; M. Santander ; S. Sarkar ; K. Schatto ; F. Scheriau ; T. Schmidt ; M. Schmitz ; S. Schoenen ; S. Schoneberg ; A. Schonwald ; A. Schukraft ; L. Schulte ; O. Schulz ; D. Seckel ; Y. Sestayo ; S. Seunarine ; R. Shanidze ; C. Sheremata ; M. W. Smith ; D. Soldin ; G. M. Spiczak ; C. Spiering ; M. Stamatikos ; T. Stanev ; A. Stasik ; T. Stezelberger ; R. G. Stokstad ; A. Stossl ; E. A. Strahler ; R. Strom ; G. W. Sullivan ; H. Taavola ; I. Taboada ; A. Tamburro ; A. Tepe ; S. Ter-Antonyan ; G. Tesic ; S. Tilav ; P. A. Toale ; S. Toscano ; E. Unger ; M. Usner ; N. van Eijndhoven ; A. Van Overloop ; J. van Santen ; M. Vehring ; M. Voge ; M. Vraeghe ; C. Walck ; T. Waldenmaier ; M. Wallraff ; C. Weaver ; M. Wellons ; C. Wendt ; S. Westerhoff ; N. Whitehorn ; K. Wiebe ; C. H. Wiebusch ; D. R. Williams ; H. Wissing ; M. Wolf ; T. R. Wood ; K. Woschnagg ; D. L. Xu ; X. W. Xu ; J. P. Yanez ; G. Yodh ; S. Yoshida ; P. Zarzhitsky ; J. Ziemann ; S. Zierke ; M. Zoll
American Association for the Advancement of Science (AAAS)
Published 2013Staff ViewPublication Date: 2013-11-23Publisher: American Association for the Advancement of Science (AAAS)Print ISSN: 0036-8075Electronic ISSN: 1095-9203Topics: BiologyChemistry and PharmacologyComputer ScienceMedicineNatural Sciences in GeneralPhysicsPublished by: -
3Bustamante, C. ; Chen, C. T. ; Sette, F. ; Howells, M. R. ; Hunt, A. J. ; Kim, K. J. ; Kincaid, B. M. ; Maestre, M. F. ; Nygren, D. R. ; Wong, M. ; Snyder, P. A. ; Stern, E. A.
[S.l.] : American Institute of Physics (AIP)
Published 1992Staff ViewISSN: 1089-7623Source: AIP Digital ArchiveTopics: PhysicsElectrical Engineering, Measurement and Control TechnologyNotes: The Advanced Light Source (ALS) is a synchrotron radiation facility based on a low-emittance, 1.5-GeV electron storage ring presently under construction at the Lawrence Berkeley Laboratory, U.S.A. Plans are under way to develop a polarized photon facility at the ALS, exploiting the natural polarization properties of the bend magnet synchrotron radiation. The radiation emitted in the plane of the storage ring is linearly polarized, while above and below the plane it is elliptically polarized. We will utilize these properties to obtain circularly polarized soft x rays. A participating research team (PRT A018) has been formed and is proceeding with the design of a high-resolution beamline in the soft x-ray energy region 100–1500 eV. Intense beams of monochromatic, tunable, pulsed, circularly polarized photons will become available. We will discuss the physical characteristics of this polarized soft x-ray source. New investigations in biology, materials science, physics, and chemistry will become accessible. Initial experiments using circularly polarized photons in the soft x-ray region are planned in the areas of differential scattering and absorption from chiral molecules and probing the electronic and magnetic properties of magnetic systems. This work was supported by the U.S. Department of Energy (DE-AC03-76SF00098).Type of Medium: Electronic ResourceURL: