Electron drift properties in high pressure gaseous xenon - A. Simón, R. Felkai, G. Martínez-Lema, F. Monrabal, D. González-Díaz, M. Sorel, J.A. Hernando Morata, J.J. Gómez-Cadenas, C. Adams, V. Álvarez, L. Arazi, C.D.R Azevedo, K. Bailey, F. Ballester, J.M. Benlloch-Rodríguez, F.I.G.M. Borges, A. Botas, S. Cárcel, J.V. Carrión, S. Cebrián, C.A.N. Conde, J. Díaz, M. Diesburg, J. Escada, R. Esteve, L.M.P. Fernandes, P. Ferrario, A.L. Ferreira, E.D.C. Freitas, J. Generowicz, A. Goldschmidt, R. Guenette, R.M. Gutiérrez, K. Hafidi, J. Hauptman, C.A.O. Henriques, A.I. Hernandez, V. Herrero, S. Johnston, B.J.P. Jones, M. Kekic, L. Labarga, A. Laing, P. Lebrun, N. López-March, M. Losada, J. Martín-Albo, A. Martínez, A. McDonald, C.M.B. Monteiro, F.J. Mora, J. Muñoz Vidal, M. Musti, M. Nebot-Guinot, P. Novella, D.R. Nygren, B. Palmeiro, A. Para, J. Pérez, M. Querol, J. Renner, J. Repond, S. Riordan, L. Ripoll, J. Rodríguez, L. Rogers, C. Romo-Luque, F.P. Santos, J.M.F. dos Santos, C. Sofka, T. Stiegler, J.F. Toledo, J. Torrent, J.F.C.A. Veloso, R. Webb, J.T. White and N. Yahlali (Institute of Physics Publishing (IOP), 2018)
6306219
Keywords: U